第51回研究会 プログラム(2018.6.11-12)

開催日時:2018年6月11日(月) 13:00 ~ 12日(火) 16:30
開催場所:高知県

第1日目: 6月11日(月)

  • 13:00 ~ 13:30参加受付
  • 13:30 ~ 13:35開会挨拶
    伊藤
  • テーマ講演
    • 13:35 ~ 14:15「最表面分析における断面観察」(仮)
      菱田智子(日本特殊陶業株式会社)
    • 14:15 ~ 14:55「電圧印加されたシリケートガラス表面の組成分布分析」
      池田 定達(旭硝子株式会社)
    • 14:55 ~ 15:10休憩
    • 15:10 ~ 15:50「ラボ型HAXPESによる絶縁物の測定」(仮)
      井上りさよ(アルバック・ファイ株式会社)
  • 依頼講演
    • 15:50 ~ 16:30「高知コア研究所における表面分析の取り組み-NanoSIMSを用いたアプリケーションの紹介-」
      伊藤元雄(高知コア研究所 同位体地球化学研究グループ)
  • 16:30 ~ 17:30- 移動 -
  • 17:30 ~ 19:30懇親会

第2日目: 6月12日(火)

  • 9:30 ~ 10:00参加受付(必要に応じて)
    • 10:00 ~ 10:30SEMの物理学
      「SEMにおける像シャープネス評価と評価用標準物質」
      熊谷 和博・黒河明(産業技術総合研究所 物質計測標準研究部門 表面・ナノ分析研究グループ)
    • 10:30 ~ 11:00「XPSによる非破壊深さ解析について」
      一條 稔 (マクセル株式会社)
    • 11:00 ~ 11:25「アンケートから見たユーザーニーズ ~ 共用設備・技術の強化・拡充の方向性」
      三浦 薫(物質材料研究機構)
  • 11:25 ~ 13:00- 昼食 -(研究会では準備いたしませんので各自でお取りください)
  • 依頼講演
    • 13:00 ~ 13:40「特異な形状を有するカーボンナノチューブの生成と電子顕微鏡法による評価」(仮)
      河野日出夫(高知工科大学環境理工学群)
  • 一般講演
    • 13:40 ~ 14:10「NIMSにおける材料データ科学に向けたデータ収集の試み」
      鈴木峰晴(物質材料研究機構)
    • 14:10 ~ 14:20休憩
    • 14:20 ~ 14:50「キログラム定義改訂における表面分析の貢献」
      黒河明(産業技術総合研究所)
    • 14:50 ~ 15:10「スパッタリングで打ち込まれたArの分布と状態について XPSによる結果」
      田中彰博1、野平博司2(1東京都市大学・ナノテクノロジー研究推進センター、2東京都市大学 電気電子工学科)更新
  • 15:10 ~ 15:15連絡事項
    伊藤
  • 15:15 ~ 15:20閉会挨拶
    永富

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