第50回研究会 プログラム（2018.2.26-27）

開催日時：2018年2月26日(月) 13:00 ～ 27日(火) 16:30
開催場所：島津製作所

第1日目： 2月26日(月)

• 13:00 ～ 13:30参加受付
• 13:30 ～ 13:35開会挨拶
  伊藤
• 日韓交流事業
  • 13:35 ～ 14:20「ToF-SIMS Characterization of Organic Materials in Cultural Heritage Science」
    Jihye Lee, Tanguy Terlier, and ○Yeonhee Lee（Korea Institute of Science and Technology）
  • 14:20 ～ 15:05「Soft x-ray photoelectron and photoabsorption spectro-nanoscopes at the Pohang Light Source (PLS-II) and their application activities」
    ○Hyun-Joon Shin, Jaeyoon. Baik, and Namdong Kim（Pohang Light Source (PLS-II), Pohang Accelerator Laboratory, Korea）
  • 15:05 ～ 15:20休憩
• テーマ講演 -XAFS-１
  • 15:20 ～ 15:50「走査型透過X線顕微鏡（STXM）による高分子材料の局所構造解析」
    菊間 淳（旭化成）
  • 15:50 ～ 16:20「蛍光収量法による軟X線XAFSの表面分析の可能性」
    ――　分析深さ、自己吸収効果とその対応について
    薄木智亮（日鉄住金テクノロジー(株)）
  • 16:20 ～ 16:50「軟X線XAFSによる動作中蓄電池への応用と課題」
    中西 康次（立命館大学）
  • 16:50 ～ 17:30- 移動 -
  • 17:30 ～ 19:30懇親会

第2日目： 2月27日(火)

• 9:30 ～ 10:00参加受付（必要に応じて）
• PSA－17
  • 10:00 ～ 10:30Powell賞受賞記念講演
    「多変量解析とスパースモデリングを利用したTOF-SIMSイメージデータフュージョン」
    ○高橋一真, 山㟁崇之, 青木弾, 福島和彦, 木村芳滋, 青柳里果 (成蹊大学物質生命理工学科, 名古屋大学大学院生命農学研究科, 神奈川県立保健福祉大学)
• チュートリアル
  • 10:30 ～ 11:30「COMPRO12の使用法（4）」
    吉原一紘（シエンタオミクロン(株)）
  • 11:30 ～ 13:00- 昼食 -（研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
• テーマ講演 -XAFS-２
  • 13:00 ～ 13:40「放射光を用いた表面分析によるトライボ現象解析」
    高橋直子（豊田中研）
  • 13:40 ～ 14:20「放射光軟X線吸収分光法による炭素系材料の計測・解析技術の開発」
    村松康司（兵庫県立大）
  • 14:20 ～ 14:35休憩
• 一般講演
  • 14:35 ～ 15:05「極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析で得られたHfO2/Si試料の オージェデプスプロファイルの解析」
    ○荻原俊弥, 長田貴弘, 吉川英樹（物質・材料研究機構 材料分析ステーション）
  • 15:05 ～ 15:35「軟X線分光器を搭載するEPMAを用いたステンレス鋼中の極微量窒素分析」
    ○目黒奨, 脇本理恵, 村野孝訓, 高橋秀之, 木村隆, 中村照美（物質・材料研究機構, 日本電子株式会社）
• 15:35 ～ 15:40連絡事項
  伊藤
• 15:40 ～ 15:45閉会挨拶
  永富