第42回表面分析研究会プログラム (2014.2.5)

開催日時:2014年 2月20日(木) 13:00 ~ 21日(金) 16:40(予定)
開催場所:大阪大学 中之島センター 講義室406

第1日目: 2 月 20 日(木) 13:00 - 17:00


13:00 ~ 13:30参加受付
13:30 ~ 13:40開会挨拶高橋和裕((株)島津製作所)
《一般講演》
13:40 ~ 14:10Powell賞受賞記念講演:
「3次元アトムプローブ法とオージェ電子分光法による多層薄膜の深さ方向分析」
○久保田真樹(1)※、石田洋一(1)、柳内克明(1)、清水康雄(2)、高見澤悠(2)、野沢康子(2)、外山健(2)、海老澤直樹(2)、井上耕治(2)、永井康介(2)((1)TDK株式会社、(2)東北大学金属材料研究所)
14:10 ~ 14:40PSA-13 Powell賞受賞ポスター紹介:
「TEM観察によるフォスファチジルコリン(PC)から成るリポソームとAuナノ粒子の吸着反応に関する研究」
「Advanced Quantitative Chemical State Analysis by Higher Energy-resolution Auger Spectra」
「Auger Electron Spectroscopy Analysis of W diffused from WC Grain into Co Region in Cutting Tools」
「コロナ放電処理によるガラス表面へのホログラム形成メカニズム」
○塚田千恵(1)、辻琢磨(1)、松尾光一(2)、行木啓記(3)、吉田朋子(4)、八木伸也(2,4)  ((1) 名古屋大学 大学院工学研究科(2) 広島大学 放射光科学研究センター(3) あいち産業科学技術総合センター(4) 名古屋大学 エコトピア科学研究所)○堤建一, 田中章泰, 島政英, 田澤豊彦(日本電子(株))○奥村洋史(三菱マテリアル(株))○小林大介(旭硝子(株))
14:40 ~ 15:30- 休憩及びディスカッション (50分) -
15:30 ~ 16:00「帯電水滴エッチングによる金属・ポリマー多層膜の分析」境悠治(山梨大学)
16:00 ~ 16:30「Auger electron spectral analysis of 2nd periodic atoms」○遠藤一央1,2、櫻本和弘2、佐藤佑哉2、阿久津恵子2、末影正博2,島賢吾2(東京理科大学1、材料科学技術振興財団2)
16:30 ~ 17:00「動的Shirley法によるXPSバックグラウンド除去の全自動化とCOMPROへの組み込み」松本凌1,荒木優一1,田中博美1,○吉川英樹2,田沼繁夫2, 吉原一紘3(米子工業高等専門学校1,物質・材料研究機構2,オミクロンナノテクノロジージャパン3)
17:00 ~ 18:00- 移動(60分) -
懇親会
18:00 ~ 20:00懇親会


第2日目: 2 月 21 日(金) 9:30 - 16:40


9:00 ~ 9:30参加受付
《一般講演》
9:30 ~ 10:00「COMPROに追加するAES標準スペクトル;Al2O3(Sapphia),Diamond(natural).Fe(R.Robin),Ga(liquid),GaAs(p),MiCa,MoS2,Pb,SiO2(100nm on Si),SiO2(Quartz),TiO2(11O),ZnO.」○後藤敬典(1)、吉原一紘(2)、山内幸彦(1)((1)産業技術総合研究所・中部センター、(2)オミクロン・ジャパン)
10:00 ~ 10:30「一度のSOM学習でOK,データ要素間の有意度算出法の新提案
-アヤメデータ,Tof-SIMSデータを用いて-」
○徳高平蔵(㈲SOMジャパン)
10:30 ~ 11:00「データフォーマット検討ワーキンググループの活動報告」○吉川英樹(NIMS)、データフォーマット検討ワーキンググループ
11:00 ~ 11:30「国際標準化の基礎:制定の手続きと表面分析への展開」〇田沼繁夫,岩井秀夫(NIMS),VAMAS-TWA2対応委員会,表面分析研究部会
11:30 ~ 13:30- 昼食(120分) -
《ワーキンググループ》
13:30 ~ 16:30WG討議と報告
 
16:30 ~ 16:35連絡事項
16:35 ~ 16:40閉会挨拶柳内克昭(TDK(株))
敬称略
以上

変更がありましたら、そのつどご案内いたします。


Return to Top Page