2012年度 実用表面分析講演会 講演者リスト

( 2018 年 12 月 15 日 現在 )

ポスター講演 16 件

氏名 所属 題目 内容
○藤田 高弥、加連 明也、井藤 浩志、藤田 大介 (株)東レリサーチセンター、物質・材料研究機構、産業総合研究所、物質・材料研究機構 電気計測SPMによる半導体微小領域のキャリア濃度定量化と国際標準化
○石津 範子、永富隆清、DP-WG パナソニック(株)、大阪大学、表面分析研究会 DP-WG活動報告(「匠の技」への挑戦の経過報告)
○塩沢 一成 (株)三井化学分析センター 昇温脱離質量分析法を用いた各種食品用ラップフィルムからの脱離挙動比較
大友晋哉 古河電気工業(株)横浜研究所 AlGaAs/GaAsヘテロ接合およびGaAs pn接合界面におけるSIMSデプスプロファイルのMRIモデル解析
大友晋哉 古河電気工業(株)横浜研究所 四重極型SIMSを用いたAlGaAsおよびAlGaN中のC,O,Si分析における2次イオン種と質量干渉
○永富隆清,DP-WG 大阪大学 相対感度係数を用いたスパッタ深さプロファイルの定量解析のためのソフトウェア開発
○大西 美和、松岡 修、野木 栄信、坂本 哲夫 工学院大学、三井化学株式会社 FIB-TOF-SIMSによるリチウム電池正極粒子表面の劣化物質の評価
○間山 憲仁、三浦 祐哉、坂本 哲夫、藤井 正明 東京工業大学資源化学研究所、工学院大学大学院工学研究科 高分解能TOF-SIMSによる大気中微粒子のクラスター分析と粒別構造解析
○伊藤博人、青柳里果、小谷紀子、下本悟、TOF-SIMS WG コニカミノルタテクノロジーセンター(株)、島根大学生物資源科学部 TOF-SIMS WG活動報告 TOF-SIMSの質量軸較正法に関するラウンドロビンテスト10(RRT-10)報告
境悠治 山梨大学 クリーンエネルギー分析センター 帯電水滴エッチング法によるCuOのXPS深さ方向分析
○小林大介、大友晋哉、飯田真一、三原一郎、伊藤博人 旭硝子(株)、古河電気工業(株)、アルバックファイ(株)、(株)クラレ、コニカミノルタテクノロジーセンター(株) ToF-SIMSにおける二次イオン種と質量確度の関係
松村 純宏 株式会社HGSTジャパン EDX分析及び多変量解析手法による微小粒子の種類の分類及び同定
○下本 悟、梶原靖子、青柳里果 島根大学生物資源科学部 2種類の高分子混合試料の近接場赤外吸収スペクトルとTOF-SIMSスペクトルの多変量解析による評価
和田智尋、大崎敬亮、青柳里果 島根大学生物資源科学部 化学振動反応への電磁気の影響と制御の検討
○小谷紀子、青柳里果 島根大学生物資源科学部 植物組織のTOF-SIMSデータへの多変量解析の応用
韓峰、梶原靖子、青柳里果 島根大学生物資源科学部 分子量の異なる高分子の表面計測データの多変量解析による評価


一般講演 3 件

氏名 所属 題目 内容
○永富隆清, DP-WG 大阪大学 DP-WG活動と関連ソフトウェアの開発
坂本哲夫 工学院大学 高分解能TOF-SIMSによるディーゼルナノ粒子の分析
○梶原 靖子、青柳 里果 三菱ガス化学蝓MGC分析センター、鳥取大学大学院 連合農学研究科 PEG・PMA混合試料のTOF-SIMSデータの多変量解析