２０１１年度 実用表面分析講演会 講演者リスト

（ 2024 年 4 月 19 日 現在 ）

ポスター講演 11 件

氏名 所属 題目 内容
○宮山　卓也、　眞田　則明、　戸津　美矢子 アルバック・ファイ株式会社 Arガスクラスターイオンビームの最適照射条件とXPS分析への応用
○小林　洋子 合同会社近赤外応用技術研究所 近赤外分析法を用いた酸化チタン粉末の表面特性
○永富　隆清 大阪大学 「深さ分解能」に関するアンケートへの回答のまとめ（第一報）
○飯田真一、眞田則明 アルバック・ファイ株式会社 TOF-SIMS測定における導電性試料表面の形状と電場効果
〇齊藤 純輝、倉山 文男、古澤 毅、佐藤 正秀、鈴木 昇 宇都宮大学大学院　工学研究科 金基板上単分子膜のXPS測定時における試料損傷
○井上　滋登，中原　佳夫，門　晋平，田中　睦生，木村　恵一 花王株式会社　解析科学研，和歌山大学　システム工学部 レクチン修飾探針を用いたモデル生体膜における糖鎖の2次元分布可視化
○清水 真人、森田 真人、花岡 雄哉、尾張 真則 東京大学生産技術研究所 3次元アトムプローブにおける電界蒸発機構の結晶方位依存性に関する研究
○大友晋哉，SASJ TOF-SIMSワーキンググループ 古河電気工業(株)横浜研究所 TOF-SIMS WG活動報告 TOF-SIMSの質量軸較正法に関するラウンドロビンテスト09(RRT-09)最終報告
佐々木宏和 古河電工（株） 電子線ホログラフィーによる半導体中のドーパント分布
○伊藤博人、SASJ TOF-SIMS WG コニカミノルタテクノロジーセンター株式会社 ToF-SIMS GW　活動報告　ラウンドロビンテスト10報告
○荻原俊弥，永富隆清，田沼繁夫 物質・材料研究機構，大阪大学 極低角度入射ビームを用いた高感度，高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析

一般講演 5 件

氏名 所属 題目 内容
○石川　信博、　荻原　俊弥、竹口　雅樹、　渡部　秀人、　稲見　隆　　　 物質・材料研究機構、茨城大学 二酸化ケイ素を少量含む酸化鉄の溶融条件下における挙動のTEM内動的解析
○小林　洋子 合同会社近赤外応用技術研究所 無機粉体の表面状態を調べる新手法
○森田　真人、清水　真人、花岡　雄哉、尾張　真則 東京大学生産技術研究所 新規局所電極による電界応力の低減に関する研究
〇黒河明、東康史、張 麓ルウ、尾高憲二、藤本俊幸 産業技術総合研究所 シリコン酸化膜による厚さ標準試料
○青柳里果, 黒田克史, 高間瑠佳, 福島和彦, 茅野功, 望月精一, 谷野章 島根大学生物資源科学部 MCRによる植物組織のTOF-SIMSデータ解析