JSA Vol.11 No.2 Pages 77-90
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解説

バックグラウンド解析法による表面電子励起効果の推定
永富　隆清
大阪大学　大学院工学研究科　物質・生命工学専攻　〒565-0871　吹田市山田丘2-1
（2004年4月1日受理; 2004年5月10日掲載決定）
Abstract
表面電子分光法における表面励起効果について，スペクトルのバックグラウンド解析という観点から概説する．まず，バックグラウンド解析において基本となるLandauの取り扱いについて述べ，多重の弾性・非弾性散乱がスペクトル，特にバックグラウンド解析へ与える影響について述べる．次に，表面励起効果により，弾性ピークやバックグラウンドがどのように変化するかについて述べた後，バックグラウンド解析を用いた表面励起効果に関する研究を紹介する．


Lecture

Study on Surface Excitations by Background Analysis
T. Nagatomi
Department of Material and Life Science, Graduate School of Engineering, Osaka University Suita, Osaka 565-0871, Japan
(Received:April 1, 2004; Accepted: May 10, 2004 )
Abstract
In the present paper, effects of surface excitations on signal electrons in surface electron spectroscopies are reviewed from a point of view of the background analysis of a spectrum. First, the Landau treatment describing energy loss processes of charged particles in the matter, which is the basic concept of the background analysis, is introduced. The effects of the multiple elastic and inelastic scattering processes undergone by signal electrons on the analysis of the spectrum are also outlined. Then, the examples are shown for how the elastic peak and the background are affected by surface excitations. Finally, the studies on the surface excitations by the background analysis are reviewed.