JSA Vol.11 No.2 Pages 123-128
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連載（講義）

表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？　Ⅱ．誘導関数とIMFP
田沼　繁夫
物質・材料研究機構　分析ステーション　〒305-0047　つくば市千現1-2-1
(2004年6月2日受理）
Abstract
表面電子分光法では電子および光と物質の相互作用は非常に重要であり，信号の減衰を理解するのに不可欠である．そこで，これらの相互作用を統一的に考えるために誘電関数，エネルギー損失関数等を導入し，光・電子と物質との相互作用について解説する．また，発生した電子を検出する表面分析法ではその検出深さが重要なので，この物理量の基礎となる電子の非弾性平均自由行程IMFPと誘電関数の関係についても述べる．


Serial Lecture

How to express the attenuation of signal electrons in surface electron spectroscopy. Ⅱ. Dielectric function and IMFP
Shigeo Tanuma
Materials Analysis Station, National Institute for materials Science, 1-2-1 Sengen Tsukuba, 305-0047
(Received: June 2, 2004)
Abstract
This article described a basis of the interaction between electron or photon and solids, which are very important for surface electron spectroscopies such as XPS and AES. Then, we referred to the dielectric function, energy loss function and optical oscillator strength distribution. Based on these things, we also showed an equation of IMFPs which was knows as TPP formula.