JSA Vol.11 No.2 Pages 117-122
連載（講義）
SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法 （Ⅱ） 後藤 敬典名古屋工業大学 〒466-8555 名古屋市昭和区御器所町
(2004年6月16日受理)
Abstract
前回は，計測の基となる単位系について，現代の単位系であるSI単位系の背景，SIの構成，日本の単位系，と表面電子分光法の標準化の背景を述べた．今回は標準化に必要な標準電子分光器について,最初に要求される‘Calculable’な分光器とはどのようなものかをこれに求められる特性を挙げ，これを可能にする項目を挙げて解説しながら背景も眺めてみる：１．Calculable とはどういうことか,２．電磁波は標準となっている，３．電子分光では電圧［V］が最も有力な標準の可能性を有する,４．仕事関数の評価ができなければ標準は無い，５．絶対的電子分光器ではその透過率が実験により求められしかも計算した透過率とも矛盾しない値でなければならない．これら普遍的に要請される項目を述べた．
Serial Lecture
A way to get "true" electron energy spectra of SI compatible by experiments (Ⅱ)Keisuke GOTONagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya 466-8555
(Received: June 16, 2004)
Abstract
In the former issue, present units system of SI was viewed in perspective and that of Japanese was shown as well. In the present issue, for the standardization of surface electron beam analysis, a ‘calculable’analyzer is the mandatory necessary features. The scope for the calculable analyzer is viewed and the characteristics for the analyzer are presented: 1.The term of calculable is viewed, 2. Electromagnetic waves can be a standard, 3.voltage [V] should be a standard in the electron energy analyzer, 4. Work function of every part in the analyzer must be determined, 5.Transmission of the analyzer must be measured by experiments, which shall show little discrepancy with calculation. These terms shown above are required in general for the standard analyzer.
