初心者のための実用表面分析講座
「分析現場ですぐに役立つ表面分析のノウハウと知識」
JASIS コンファレンス 2016

  • JASIS コンファレンス

2016年6月
主催(セミナー):一般社団法人 表面分析研究会
主催(JASISコンファレンス):一般社団法人 日本分析機器工業会/一般社団法人 日本科学機器工業会

 材料や機能の発現する場がナノサイズ化することに伴い,表面化学分析手法はものづくりを進めるうえで必須のツールとなりました.近年,分析装置は誰でもが扱える操作性を持つようになりましたが,表面 をありのままに分析しようとする場合にはさまざまなノウハウ,配慮すべき点があります.本セミナーで は主に現場で表面分析装置を扱い始めたばかりの方を対象に,表面をありのままに測定するために知って おきたいことを,実例を交えて平易に解説します.

日時:
2016年9月9日(金) 9:00-17:00    受付開始:8:45~
場所(JASIS 2017会場併設):
幕張メッセ国際会議場 103会議室
〒261-8550 千葉市美浜区中瀬2-1 株式会社幕張メッセ  TEL: 043-296-0001(代)

https://www.m-messe.co.jp/
参加費:
無料
事前登録:
不要
プログラム:

  • 09:00 ~ 09:10開会挨拶
  • 09:10 ~ 10:05表面分析概論
    柳内 克昭(TDK(株))
  • 10:05 ~ 11:00AES/XPS/SIMS の基礎
    吉原 一紘(シエンタオミクロン(株))
  • 11:00 ~ 13:00休憩
  • 13:00 ~ 13:55試料の取り扱いと試料前処理
    荒木 祥和((株)日産アーク)
  • 13:55 ~ 14:50初心者のための TOF-SIMS 分析の勘どころ
    伊藤 博人(コニカミノルタ(株))
  • 14:50 ~ 15:00休憩
  • 15:00 ~ 15:55初心者のための AES 分析の勘どころ
    荻原 俊弥(国立研究開発法人 物質・材料研究機構)
  • 15:55 ~ 16:50初心者のための XPS 分析の勘どころ
    島 政英(日本電子(株))
  • 16:50 ~ 17:00閉会挨拶
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